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手機(jī)蓋板透過(guò)率測(cè)試儀HCGX-MT-1100
作者:管理員    發(fā)布于:2019-09-02 16:01:08    文字:【】【】【
摘要:手機(jī)蓋板透過(guò)率測(cè)試儀HCGX-MT-1100,850nm光源,紅外940nm光源和可見(jiàn)550nm光源照射被測(cè)透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率,用百分?jǐn)?shù)表示。

手機(jī)蓋板透過(guò)率測(cè)試儀HCGX-MT-1100,850nm光源,紅外940nm光源和可見(jiàn)550nm光源照射被測(cè)透明物質(zhì),感應(yīng)器分別探測(cè)三種光源的入射光強(qiáng)和透過(guò)被測(cè)透明物質(zhì)后的光強(qiáng),透過(guò)光強(qiáng)與入射光強(qiáng)的比值即為透過(guò)率,用百分?jǐn)?shù)表示。

現(xiàn)在的智能手機(jī),具有光線感應(yīng)器和距離感應(yīng)器。手機(jī)蓋板透過(guò)率測(cè)試儀HCGX-MT-1100光線感應(yīng)器能夠?qū)崿F(xiàn)屏幕亮度自動(dòng)調(diào)節(jié)等,距離感應(yīng)器能夠在通話時(shí)感應(yīng)手機(jī)與人臉距離從而自動(dòng)關(guān)屏,防止臉部誤觸屏幕操作。

智能手機(jī)鏡片上,一般有兩個(gè)小孔,用于光線感應(yīng)器和距離感應(yīng)器的紅外線穿透。還有一個(gè)稍大的孔,用于攝像頭。鏡片上這兩個(gè)小孔的紅外線穿透能力,直接影響到智能手機(jī)的光線感應(yīng)器和距離感應(yīng)器的性能。所有這一個(gè)紅外線透過(guò)率指標(biāo),非常重要。

被測(cè)手機(jī)蓋板紅外小孔

                                                                     所測(cè)光斑影像

 

手機(jī)蓋板透過(guò)率測(cè)試儀HCGX-MT-1100技術(shù)參數(shù):
1.產(chǎn)品名稱(chēng):手機(jī)蓋板透過(guò)率測(cè)試儀
2.型號(hào):HCGX-MT-1100
3.探測(cè)器:Hamamatsu背照式2D-CCD
4.檢測(cè)范圍:380-1100nm
5.全波長(zhǎng)同時(shí)測(cè)量
6.信噪比(全信號(hào)):450:1
7.檢測(cè)誤差:<0.5%
8.檢出限:0.2%
9.單次測(cè)量時(shí)間:<1秒
10.操作系統(tǒng)/接口:Windows XP,Windows 7,Windows 10
11.電源/功率:220V-50Hz/6W
12.光斑大小可調(diào),范圍0.1mm~1.0mm
13.測(cè)試波長(zhǎng)范圍:380nm~1100nm
14.波長(zhǎng)精度:1nm
15.可測(cè)試全波段曲線
16.便于對(duì)焦,底部有照明光源,可以清晰看到小孔的位置和光斑的位置,以及分割線的位置,便于定位和對(duì)焦
17.外界光源干擾去除(無(wú)需在暗環(huán)境下測(cè)試)
18.支持不同尺寸lens的測(cè)試,4.5inch~12inch,在樣品臺(tái)有XY方向的定位擋板,同類(lèi)樣品一次調(diào)節(jié)好位置之后可以連續(xù)放樣品進(jìn)行測(cè)試,只需對(duì)樣品進(jìn)行微調(diào)即可定位和對(duì)焦
19.本儀器能快速測(cè)量各類(lèi)平面光學(xué)元件的透射率,適合批量樣片全檢,方便的測(cè)量治具,簡(jiǎn)單調(diào)整一次后,大批量就無(wú)需人工對(duì)孔,即放即測(cè),最高效率;
20.最快捷的使用、最簡(jiǎn)單的操作、一鍵點(diǎn)擊、數(shù)據(jù)直讀、放片即測(cè);
21.寬范圍精確檢測(cè)400-1000nm光譜,各波段透光率都能顯示,除實(shí)時(shí)全部光譜曲線直接顯示外,更可直接顯示500nm,550nm,850nm,900,940nm或自定義任意波長(zhǎng)的透光率,同時(shí)顯示可見(jiàn)光(380-800nm)和紅外光(800-1000nm)平均透光率便于讀數(shù);
22.可同時(shí)記錄樣品譜圖,批量保存測(cè)量結(jié)果,加載已保存的測(cè)量數(shù)據(jù),生成對(duì)比譜線,實(shí)現(xiàn)工藝對(duì)比;

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